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紫外可見光光度計
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多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測量可在 5 毫秒內(nèi)進行。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖支持各種測量系統(tǒng)，無需識別樣品類型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結(jié)合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
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除了能夠進行高精度薄膜分析的光譜橢圓測量外，我們還通過安裝測量角度的自動可變機制，支持各種薄膜。 除了傳統(tǒng)的旋轉(zhuǎn)分析儀方法外，還通過設(shè)置緩速板的自動解吸機制，提高了測量精度。
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我們的 MCPD 系列內(nèi)聯(lián)薄膜評估系統(tǒng)采用光學(xué)類型，可在非接觸式和無損條件下檢測薄膜厚度、濃度和顏色。 可測量薄膜厚度范圍為 65nm 至 92μm，從薄膜到厚膜。 （折射率為1.5時） 測量原理為分光干涉方式，在實現(xiàn)高測量再現(xiàn)性的同時，還支持多層厚度測量。 由于采用專有算法可實現(xiàn)高速實時監(jiān)控，因此我們提出了*適合在線膠片監(jiān)視器的系統(tǒng)。
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我們的 MCPD 系列采用柔性光纖，可集成到從原位到內(nèi)聯(lián)的各種位置和應(yīng)用。 由于測量原理采用光譜干涉系統(tǒng)，因此在實現(xiàn)高測量可重復(fù)性的同時，還支持多層厚度測量。 采用專有算法，可實現(xiàn)高速實時監(jiān)控。
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OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區(qū)域進行**反射率測量，可實現(xiàn)高精度薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)分析的裝置。 涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學(xué)材料）可以無損或非接觸式測量。 測量時間可以高速測量 1 秒/點。 此外，它配備了一個軟件，即使是初學(xué)者可以很容易地分析光學(xué)常數(shù)。
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特點 ■納米SAQLA的特點 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒式細胞塊，無分包的無孔， 每個細胞都是獨立的，因此無需擔(dān)心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度 ■AS50的特點 連續(xù)測量多達 50 個樣本 即使在測量過程中也能添加樣品 樣品集簡單方便（*多可批量更換 50 個樣品） 有機溶劑兼容（玻璃一次性電池） 樣品容量 *小 0.4ml
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該裝置可用于用稀釋溶液到濃縮溶液測量Zeta電位。 測量電滲透流，使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量，可實現(xiàn)高精度 Zeta 電位測量。 此外，在0~90°C的寬溫度范圍內(nèi)，可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
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除了使用傳統(tǒng)稀釋溶液和濃縮溶液測量Zeta電位和顆粒直徑外，該裝置還能夠測量分子量。 對應(yīng)于顆粒大小測量范圍（0.6nm 至 10μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。 測量電滲透流，使用*小容量為 130μL 的一次性電池進行測量，可實現(xiàn)高精度 Zeta 電位測量。 此外，在0~90°C的寬溫度范圍內(nèi)，可以進行自動溫度梯度測量的改性和相變溫度分析。
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[通過光散射評估物理性能在 ELSZneo 中進入一個新的階段] 除了在 ELSZseries 的**型號上用稀釋溶液到濃縮溶液測量 Zeta 電位和顆粒直徑外，該裝置還允許分子量測量。 作為一項新功能，我們采用了多角度測量，以提高顆粒大小分布的分離能力。 此外，還可以進行顆粒濃度測量、微流變測量和凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析。 新開發(fā)的 Zeta 電位平板電池單元采用新開發(fā)的高鹽濃度涂層，可在高鹽濃度環(huán)境中（如鹽水）進行測量。 我們還推出了超微量電池單元，可在 3μL 下測量顆粒大小，為生命科學(xué)領(lǐng)域擴展了可能性。
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自1953年銷售以來，無論是在科研領(lǐng)域、生產(chǎn)現(xiàn)場，還是在品質(zhì)管理等各類需要測定粘度的場所，B-II型粘度計都是客戶的愛用機型，也是粘度計的代表機型。 特點 ◆ 擁有從低粘度至高粘度的寬廣測定量程 ◆ 接觸液體部分的材料是SUS304/303型不銹鋼 ◆ 適合測定非牛頓型液體的流動特征 ◆ 輝煌的銷售業(yè)績蓄積了豐富的專業(yè)知識和經(jīng)驗
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除了常規(guī)的 zeta 電位和粒度測量外，它是一種可以測量分子量的設(shè)備，可通過稀溶液至濃溶液進行測量。 支持粒度測量范圍（0.6 nm 至 10 μm）和濃度范圍（0.00001% 至 40%）。可以使用*小容量為 130 μL 或更大的一次性樣品池進行測量，通過實際測量電滲流來實現(xiàn)高精度的 zeta 電位測量。 此外，通過在0～90°C的寬溫度范圍內(nèi)進行自動溫度梯度測量，可以進行變性/相變溫度分析。
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頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率（多層膜厚度，光學(xué)常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的**機制 易于分析向?qū)?，初學(xué)者也能夠進行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
